滨松光电开发了一种GaN(氮化镓)晶体评估系统“ODPL(全向光致发光)测量系统C15993-01”，利用ODPL光谱及其独特的光检测技术，包括光学设计和数据处理。该ODPL测量系统定量评估了目前作为下一代功率半导体材料而引起广泛关注的GaN晶体的质量。这个新系统将被证明是提高研发效率的有力工具，以发现改善晶体质量的新方法。
这种新的ODPL测量系统于2021年8月2日星期一开始向日本和海外的大学和半导体衬底制造商的研究人员销售。
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