在工业质量和过程控制方面的应用利用了太赫兹系统固有的安全性，以无接触的方式工作，并实现非常高的测量速度。
如果任务涉及快速移动的样品，测量速度就变得特别重要，例如，在挤压线的厚度测量，或在快速传送带上的项目，可能需要筛选以一毫米分辨率。
与传统太赫兹时域光谱仪相比，TeraFlash智能光谱仪不使用任何机械延迟单元，而是包括两个同步飞秒激光器和一个电子延迟(“电控光学采样”，ECOPS)。这一概念的结果是极高的测量速度:TeraFlash智能获得1600个完整的太赫兹波形每秒，使基于太赫兹的厚度测量以前所未有的速度。
灵活的测量设置
在625 μs的测量时间内，TeraFlash智能实现了3太赫兹的频谱带宽。脉冲轨迹的动态范围大于50 dB。在平均一秒内，该值增加到> 80 dB，带宽超过4太赫兹。用户可以灵活调整太赫兹路径长度，从10厘米到180厘米。光纤耦合发射和接收天线可以灵活定位，并能够在传输或反射中进行测量。
反射测量特别适用于确定层厚，例如调查塑料管的壁厚，或聚合物涂层或单层和多层涂料的结构。10米长的光纤电缆使控制单元与测量头在空间上分离，测量头甚至可以安装在机器人手臂上。
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