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Micro-Epsilon的新reflectCONTROL传感器提供了高精度的三维测量光泽和闪亮的组件

图片来源:MICRO-EPSILON MESSTECHNIK GmbH & Co. KG

reflectCONTROL传感器对光滑和有光泽的表面进行3D表面检查。对异常的精确识别使其符合最高质量要求。在几微米范围内可以可靠地检测到平面度偏差。监控可以是基于机器人的,也可以是固定在生产线上的。

当需要对光滑和有光泽的组件进行高精度三维测量时,reflectCONTROL传感器是理想的选择。特别是在平面上,reflectCONTROL技术以其微米级精度的高测量率给人留下深刻印象。

该传感器产生条纹图案,该条纹图案被测量物体的表面反射到传感器相机。这种条纹图案的变形表示地表的异常,由软件进行评估。

reflectCONTROL 3D传感器可以可靠地检测出小于1 μ m的最轻微的平面度偏差。例如,该传感器用于半导体生产中晶圆的3D形状检测和平板玻璃的质量检查,如智能手机生产。

欲了解更多信息,请访问http://www.micro-epsilon.com