Hamamatsu Photonics开发了一种新的半导体故障分析系统，称为“ Phemos-X C15765-01”，仅在一个单元中，一个单元在一个单元中使用近红外光来分析半导体缺陷。这使得这是一种新安装的多波长激光扫描仪，它应用了我们独特的内部光学设计技术。
有效利用多波长的光允许高灵敏度和高分辨率对于定位半导体故障必不可少，因此将提高需求较高的不同半导体设备的故障分析效率，例如最先进的半导体设备，其电路线宽度的电路宽度与普通半导体设备更有效地控制电力的缩小和功率半导体。Phemos-X的销售从2021年4月1日（星期四）为国内和海外半导体设备制造商开始。
有关更多信息，请访问http://www.hamamatsu.com。
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