滨松光电公司开发了一种高速检测晶圆上微型led的系统，以检测其外观、发光强度和波长的异常情况。该检测系统采用了基于其先进的图像处理技术的光致发光(PL)测量技术和新开发的具有独特光学设计技术的成像模块。滨松光电公司称这种微型led PL检测系统为“MiNYTM PL”，型号为C15740-01。
MiNYTM PL在检测微型led时可以快速做出通过/不通过的决定，这将有助于提高显示应用中的产品良率，也有助于提高微型led的研发效率。此外，MiNYTM PL还将在未来的大规模生产线上简化微型led的100%检测过程。MiNYTM PL将于2021年3月8日星期一开始向国内外市场的LED和显示器制造商销售。
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