梁剖面图提供优化激光点加速进程的工具光束形状控件使用波段剖面程序确保进程持续高质量
激光束分析的基本功能由Beamlux软件提供封装软件工具如2D-zom和点定位或视时间绘制多项计算结果是理想质量控制工具光束精确定位或监控相关之处均使用
多流测量系统是为激光系统和相关应用中多项需求搭建的全世界许多系统都使用这些波长,即使是CCD或CMOS传感器技术通常无法访问的UV和IR波长
产品 :
焦点测量帮助优化激光点提高过程速度离散减值放大成像控制激光焦点强度分布和位置这是一项重要程序监控工具
多路提供量测系统优化满足波长、功率密度、数字孔径和点尺寸等焦点激光波束的巨大不同需求Beamlux软件中包含工具,如2D点对或视时间绘制多项计算结果,对激光聚焦强度分布的分析和优化是理想的
激光聚焦被公认为在许多材料处理领域的宝贵工具汽车产业使用聚焦激光束远程焊接汽车机部件,显示业割镜分层,而太阳能产业则使用激光束切割并绑定硅片
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测量激光腐蚀性可精确描述波束质量Beamlux软件内M2工具优化测量激光束导容达ISO11146标准并高速提供最高可复制度
激光源特征对高质量激光系统生产过程至关重要可选择实化系统波束源,系统可基于标准定义参数规划多量度系统签名快速高精度测量激光波束参数由于包括远程控制特征,很容易融入生产过程
激光制造厂家和系统集成器主要使用这类测量精确描述激光束和激光束多边软件提供结论性测量报告
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线焦点测量服务提供优化激光线焦点提高进程速度为了确保持久高质量produceoin进程,必须持续监控线宽度、密度分布和同质性这需要快速测量高分辨率
线形激光丰度最长为3000毫米,可大面积处理多材料特别是在大规模大规模生产设置中,这需要持续监控使用激光工具有效使用激光线fci实例之一是OLED和LED显示器制作激光波长、线长宽度和强度均匀Metrolux提供专用Beamscan或Liescan软件包系统,优化线焦点反射以监控连续高质量甚至在UV波长如193纳米时,某些MetroluusUV系统都可用于扩展线焦点或面积扫描测量
这种方法主要用于显示器和半导体行业
产品 :
多流系统测量并描述激光射线质量和输出功率以及波束性能,如波束尺寸、可聚焦性波段剖面可靠高精度测量设备对制造商质量控制和营销都非常重要。可复制性也起着重要作用。
产品 :
线聚焦制作直接负责显示质量多路测量系统图像并使用Beamscan软件分析此线
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系统集成涵盖各种技术方面Metrolux是所有依赖激光质量工具市场灵活和能干的伙伴
产品 :
激光令自身成为汽车产业的重要工具最适宜焊接、装饰和钻探Metrolux为可靠监控单进程提供解决方案,使聚焦激光波束参数保持在最优范围
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完全组合硬软件对精确测量和分析激光束至关重要Metrolux开发了四种软件包,用于分析激光波前参数并符合国际ISO标准:Beamlux、Beamscan、Linescan和Raylux
频繁测量系统整合到其他系统或过程这使得数据采集与其他用户接口相容性具有高度重要性远程控制接口包括与Metrolux软件捆绑实现直接整合生产流程并生成客户专用图形界面各种数据处理和报表生成功能已经可用
束剖面图和图像处理软件Beamlux设计用于分析cw和脉冲激光束与获取图像并行评估波束密度分布衍生参数符合国际ISO标准的分析提供波段剖面分析的所有基本功能插件跟踪和各种缩放选项等更多函数使软件包最适于聚焦度测量可选模块如M2工具或Power工具为苛量测量或相对功率测量提供最优解决方案
软件捆绑Linescan和Beamscan为分析广波剖面像线fci提供工具可扩展至多米长加高分辨率线宽度优化算法在这些软件包中允许高精度测量波束同质性集成电机控制便于扫描长激光线fci
Raylux软件Metrollos工具波前分析设计它是为了评价Shack-Hartmann数据并适应所有Zernike系数光学学和波束质量监控很容易实现
BPC8304ML图像处理软件BeamluxQQ
BM8304-Bem监视8304
低S/N比率和高传感器响应线性是Metrolux波段剖面程序使用传感器的初级属性软件提供国际标准EN-ISO11145、11146、11670和13694所需的功能,覆盖激光光特征描述方面BPC8304使用方形像素6.45m传感器340至1100纳米波长允许分析所有常用激光波长数据接口GigapitEthernet计算机大都提供GigE接口(相对于Firewire),通常不需要加分页内卡电缆长度很容易达100米,便于融入生产系统
技术规范
焦点高功率用于测量高功率区定点激光波
聚焦监视器
束剖面程序快速测量高功率区激光点
enefit发自
设计技术
使用