SICK在市场上推出了其最新一代微型光电传感器W4F。新的ASIC平台为该产品系列提供了众多性能优势。例如，这些传感器能够以最高的可靠性检测甚至是喷射黑色，高反射，平坦或透明的物体。W4F还可以提供距离信息，例如物体的高度，从而识别过程错误。最初的用户已经证实，光电传感器具有市场上最好的环境光和阳光抑制能力，以及对所有已知光干扰源的最大免疫能力。此外，Blue Pilot操作概念与创新的监控选项相结合，使传感器的配置和监控比以往任何时候都更容易。这节省了调试期间的时间。IO-Link和用于传感器监测和诊断的新型智能功能创建了与数字化机器和应用程序世界的链接。总而言之，这意味着:在最小的安装空间中获得最大的性能，可靠的开关行为，以及有保证的过程和未来的确定性——即使在为W4F开放的新应用程序中也是如此。
下一代W4F具有高度坚固的Vistal®塑料外壳，可提供以前仅在SICK大型W16和W26产品系列中提供的传感器功能和性能特征。例如，他们的蓝色飞行员操作概念也已在W4F中实现。因此，下一代微型光电传感器提供了相同的经过验证的外观和感觉——一致性使得用户操作和调试传感器变得非常容易。
新的ASIC提供了更高的性能
与之前的产品系列相比，光电接近传感器的工作距离增加了47%，物体和背景之间的黑白漂移减少了38% -通过W4F, SICK实现了光电微型传感器的显著性能提升。这也适用于改进的，主动检测机器环境附近的光干扰源，并抑制这种干扰。高水平的抗干扰能力是由于这种类型的传感器首次集成了一个额外的漫射LED。W4F的背景抑制-这是显著优于市场上的其他制造商-保证了连续的机器操作，没有来自周围环境的干扰。
这种性能的基础是开发一种新的ASIC，使两个光密集型的定点发射LED和漫射LED可以同时工作，而不会对传感器产生任何明显的加热。这避免了与温度相关的故障风险。ASIC还直接将多像素接收器的每个像素处的反射光的光电流数字化。这使得传感器不仅实现了非常高的灵敏度，而且还具有很长的传感范围和可靠的检测行为，即使对反射不良的物体表面。此外，ASIC的数字滤波器保证了当今市场上最好的环境光抑制。这确保了流程的可靠性。还可以收集附加的过程和诊断数据以及与操作相关的补充信息，如温度和操作时间。因此，W4F可能提供了市场上最多的特性和功能可靠性。用户受益于传感器的连续和无故障可用性以及他们的机器的无故障操作。
光学标准，光学专家-适合任何任务的正确传感器解决方案
下一代W4F产品组合包括两个传感器业务领域:光学标准和光学专家。光学标准业务领域的传感器-一个透束光电传感器和一个光电反向反射传感器，每一个都具有较长的传感范围，以及两个具有背景抑制的光电接近传感器-已经在该领域证明了自己是节省空间和高性能的目标检测全面器。其中一个光电接近传感器提供了异常集中的光束和点几何(窄光束)。这使得传感器也能探测到喷射黑色物体，误差小于1%。
对于特别具有挑战性的情况，用户可以信赖光学专家。这些SICK传感器专为特定应用而设计。借助其类似激光的光斑、v型光学和专门定制的光学设计，v型光学变体可以可靠地检测甚至是最反射或透明的物体，如晶圆或显示器。为了精确检测薄物体或标签，SICK提供了带有两个led和高性能前景抑制的光电接近传感器。带有两个线形光斑的光电接近传感器(DoubleLine)确保即使对有孔、钻孔或凹处的物体也能连续切换信号。光电接近传感器输出距离值，并具有多开关功能-即，有两个开关点-监控组装过程中组件的正确安装。在食品包装应用中，它们可以区分垂直和水平包装，报告高和低填充水平，或监测薄膜、包装材料或标签卷的直径。
如需更多信息，请访问http://www.sick.com．
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